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<Imina Technologies 奈米探針SEM產品>
瑞士設備商Imina Technologies產品中的納米探針應用於積體電路（IC）元件尺寸的不斷縮小，掃描電子顯微鏡（SEM）已成為IC設計和故障分析工程師越來越多地使用的技術，用於量測IC的性能，以及定位和分析缺陷的根本原因。